Ngày 30/06/2026, tại Hà Nội, AIE JSC phối hợp cùng Carl ZEISS Việt Nam tổ chức thành công Hội thảo ZEISS Quality Innovation Day 2026 với chủ đề “Kỹ thuật đo lường số – Đổi mới kiểm soát chất lượng trong sản xuất chi tiết nhựa”. Sự kiện quy tụ khách mời, chuyên gia kỹ thuật, đại diện doanh nghiệp sản xuất và các đơn vị quan tâm đến giải pháp đo lường, kiểm soát chất lượng trong ngành nhựa.
Trong bối cảnh ngành sản xuất nhựa đang đứng trước yêu cầu ngày càng cao về độ chính xác, tính ổn định và khả năng tối ưu chi phí, hội thảo đã mang đến những góc nhìn thực tiễn về xu hướng ứng dụng công nghệ đo lường số trong toàn bộ quy trình sản xuất. Chương trình mở đầu với phần phát biểu khai mạc của đại diện AIE JSC và lời chào mừng từ đại diện ZEISS Industrial Quality Solutions, khẳng định cam kết đồng hành cùng doanh nghiệp Việt Nam trong hành trình nâng cao năng lực kiểm soát chất lượng và chuyển đổi số sản xuất.
Tại hội thảo, các diễn giả đã tập trung phân tích những thách thức nổi bật trong quản lý chất lượng của ngành sản xuất nhựa hiện đại, đặc biệt là yêu cầu rút ngắn thời gian đo kiểm, bảo đảm độ chính xác, kiểm soát sai lỗi và nâng cao hiệu quả sản xuất hàng loạt. Các nội dung trình bày cho thấy kiểm soát chất lượng hiện nay không chỉ dừng lại ở khâu kiểm tra cuối cùng, mà cần được tích hợp xuyên suốt từ thiết kế, chế tạo khuôn mẫu, sản xuất thử đến sản xuất hàng loạt.
Một trong những điểm nhấn của chương trình là chuyên đề “Đo lường quang học 3D trên toàn bộ chuỗi quy trình sản xuất nhựa”, giới thiệu khả năng thu thập dữ liệu nhanh, không tiếp xúc và có độ chính xác cao của công nghệ đo lường quang học 3D. Giải pháp này hỗ trợ doanh nghiệp phát hiện sai lệch sớm, phân tích hình học sản phẩm, tối ưu quy trình hiệu chỉnh và nâng cao năng suất trong sản xuất.
Bên cạnh đó, chuyên đề “Tính năng De-warp: Kiểm soát cong vênh, giảm chi phí sản xuất chế tạo” đã thu hút sự quan tâm lớn từ khách mời. Trong sản xuất chi tiết nhựa, hiện tượng cong vênh là một trong những vấn đề phổ biến, ảnh hưởng trực tiếp đến độ chính xác kích thước, chất lượng lắp ráp và chi phí chế tạo. Việc ứng dụng công nghệ phân tích và kiểm soát cong vênh giúp doanh nghiệp rút ngắn thời gian hiệu chỉnh khuôn, giảm chi phí thử nghiệm và nâng cao chất lượng sản phẩm đầu ra.
Sau phần trình bày chuyên đề, khách mời tiếp tục tham gia chuỗi demo công nghệ trực tiếp với 04 trạm trình diễn. Các nội dung demo bao gồm kiểm soát chất lượng trong quá trình chế tạo khuôn mẫu; tự động hóa kiểm tra chất lượng trong sản xuất hàng loạt với ZEISS Scanbox 5120; lập báo cáo kiểm tra mẫu thử FAI theo tiêu chuẩn GD&T 5459:2024 kết hợp tính năng De-warp; và giải pháp đo lường với CMM, VMM, CT X-Ray. Mô hình trình diễn theo nhóm đã giúp khách mời trực tiếp quan sát thiết bị, trao đổi với chuyên gia và hiểu rõ hơn khả năng ứng dụng của từng giải pháp trong môi trường sản xuất thực tế.
Hội thảo ZEISS Quality Innovation Day 2026 không chỉ là dịp giới thiệu các công nghệ đo lường tiên tiến, mà còn là diễn đàn kết nối giữa chuyên gia, nhà cung cấp giải pháp và cộng đồng doanh nghiệp sản xuất. Thông qua chương trình, AIE và ZEISS tiếp tục khẳng định vai trò đồng hành cùng doanh nghiệp Việt Nam trong việc đổi mới kiểm soát chất lượng, tối ưu quy trình sản xuất và hướng tới mô hình sản xuất chính xác, thông minh, hiệu quả hơn.
Sự kiện khép lại với phần tổng kết, bốc thăm may mắn và chương trình giao lưu thân mật, để lại nhiều ấn tượng tích cực cho khách mời tham dự. AIE JSC trân trọng cảm ơn Quý khách hàng, Quý đối tác và các chuyên gia đã đồng hành, góp phần tạo nên thành công của hội thảo.
